# 5 - Virtuelle Tests & Diagnostik |
|
Virtuelles Testen ist
die Simulation von Schaltungen in einer virtuellen Testumgebung.

Virtuelle Instrumentation hilft bei der Entwicklung eines virtuellen
Prüfstands. Es dient der Vorbereitung der realen Instrumentation.
Programmieren virtueller Tests vollführt das Gleiche in kompilierter
Weise - am besten mit SUCCESS. Es dient der Ausführung funktioneller
Tests und der Vorbereitung für industrielle Prüfungen.
Vorteile
Dank der Virtuellen Test Methodologie (VTM) kann die Testentwicklung
während der Produktentwicklung und der Fehlersuche im Design durchgeführt
werden. Bei der traditionellen Design Methodologie kann die Testreihe
erst programmiert werden nachdem das Design fertig gestellt wurde und
der Testentwickler kaum Einflußmöglichkeiten auf Verbesserungen
des Schaltungsdesigns hat! Erprobbarkeit ist dann nur ein nachträglicher
Einfall...
Der Vorteil der VTM ist die gemeinsame Entwicklung des Testprogramms und der
Schaltung am Simulator. VTM bedeutet einen kürzeren, kostenreduzierten Entwicklungszyklus
und daher eine verkürzte Zeitspanne bis zur Markteinführung. Der Testingenieur
kann bedeutend in die Bereiche des Testdesigns und der Fehlersuche in Prototypen
eingreifen.
Testprogramme sind vor den Prototypen der Wafer verfügbar und erlauben somit
eine schnelle Fehlersuche und eine frühe Auslieferung von ersten qualitativen
Proben an den Kunden. Folglich spart die Auslegung von Testprogrammen als virtuelle
Tests insgesamt 1,5M$ an Kosten gegenüber konventionellen Testverfahren.

Virtuelle Diagnostik ist die Lokalisierung eines Designdefekts
durch die Simulation: sie dient umgekehrt zur:
|
SMASH “Der VT&D
Champion
Ein elektronisches Design, im Bereich sehr
tiefer Submikron-Technologien, mit idealen Parametern und Eingaben
zu simulieren, garantiert keinen annehmbaren Produktertrag. Änderungen
im Herstellungsprozeß müssen während des Entwurfs berücksichtigt
werden, ebenso wie das Anlegen von physikalisch realisierbaren Testsignalen.
Als Beispiel sei eine Schaltung mit mehreren ähnlichen MOS-Transistoren
betrachtet. Auch wenn deren Layout strikt gleich ist, so kann sich das Verhalten
aufgrund von Fabrikationsschwankungen unterscheiden.
Die Ingenieure verwenden die Monte Carlo Analyse um zu prüfen ob das Design
verläßlich genug ist.
Zufallsstreuungen bei Transistoren, Ungewißheit bei Kapazitäten...
degradieren folglich die erwartete Charakteristik und somit den Ertrag von
analogen Schaltungen.
Zum Beispiel: der Ertrag eines Speicherblocks hängt von vielen stochastischen
Verteilungen ab, wie: Offset des Leseverstärkereingangs, den Spannungstoleranzraums,
Laufzeitfehlverhalten bei internen Kontrollsignalen, etc.
Zur richtigen Vorhersage der analogen Charakteristiken
und dem Ertrag solcher Schaltungen ist es notwendig, die entscheidenden
Zufallsstreuungen im Simulationsprozeß zu betrachten, um die optimale
Schaltung auszuwählen.
Mit SMASH 4.3 führte DOLPHIN eine
neue, zum Patent angemeldete Technik ein, um die Transistoren, Widerstände
und Kondensatoren zu diagnostizieren, die sensitiv bzgl. dieser Effekte
sind.
Fallstudie: eine zum
Patent angemeldete Simulation mit SMASH! |
Die bekannte Monte Carlo Methode ist nützlich
um die Effekte der Zufallsstreuungen vorherzusagen, aber sie ist nicht
geeignet um eine Schaltung bezüglich analoger Charakteristik und
Ertrag zu optimieren. Dank der zum Patent angemeldeten Methode in SMASH
ist es jetzt möglich zu verstehen, warum ein gegebener Entwurf
zu schlechtem Verhalten führt.

|
Klassische
Monte Carlo Analyse der Schaltung. |

Das fehlerhafte Verhalten wird reproduziert. |
Unsere Lösung ermöglicht die Verwendung von Monte Carlo
Simulationen innerhalb einer "Optimierungsschleife", welche
die Simulationsroutine und das Schaltungsmodell umfaßt.
Sie garantiert die Möglichkeit jede beliebige Ausgabe eines Satzes der Monte
Carlo Simulation zu reproduzieren, um das Designverhalten auch bei Empfindlichkeiten
aufgrund von Zufallsstreuungen zu optimieren.

Die störenden Elemente oder die Kombination von störenden
Elementen einer jeden fehlerhaften Simulation werden automatisch
von SMASH gefunden.
Fragen Sie nach Anwendungshinweisen:
Medal@dolphin-integration.com
Die
fehlerhaften Elemente sind hervorgehoben. |
Virtuelle Tests und Diagnostik
vor der Produktion mit SMASH liefern eine Abschätzung
der Ertragsbegrenzung ihres Designs aufgrund lokaler Streuung
(z.B. Offset-Anpassung). |
Und die Gewinner sind...
natürlich die gemischt analog/logischen virtuellen Komponenten
des FLIP-Katalogs: Jazz für
PLL's, Konverter und CODEC als auch RagTime für
eingebetteten Speicher!
< SMASH Differentiators
|